全國(guó)統(tǒng)一熱線：
傳真（FAX）：86-021-60649603
郵編（P.C）：201417
E-mail：junsish@163.com
地址：上海奉賢臨海工業(yè)園區(qū)818號(hào)
HAST可靠性試驗(yàn)機(jī)，高加速壽命試驗(yàn)箱被廣泛應(yīng)用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)。當(dāng)HAST試驗(yàn)應(yīng)用于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段時(shí),可以快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，特別是線路板,多層線路板,IC半導(dǎo)體,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè), 測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。
HAST可靠性試驗(yàn)機(jī)，高加速壽命試驗(yàn)箱用途：
高加速老化試驗(yàn)箱是為評(píng)估非氣密性固態(tài)器件在潮濕及電偏壓的環(huán)境中的可靠性。這是一種高度加速試驗(yàn)，在非冷凝條件下利用溫度和濕度加速水汽通過外部保護(hù)材料（封裝材料或密封件）或沿著外部保護(hù)材料和金屬導(dǎo)體之間的界面滲透。該試驗(yàn)依據(jù)JEDEC 22標(biāo)準(zhǔn)，此測(cè)試用于識(shí)別封裝內(nèi)部的故障機(jī)制，具有破壞性。
HAST高加速老化試驗(yàn)箱主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、IC芯片、固態(tài)存儲(chǔ)器、DRAM、閃存卡及模塊、元器件、零部件、金屬材料、塑料晶體管外形封裝等產(chǎn)品測(cè)試。
HAST可靠性試驗(yàn)機(jī)，高加速壽命試驗(yàn)箱技術(shù)性能：
溫度范圍: 105℃～147℃( 蒸氣溫度 )
濕度范圍: 75~100 % （蒸氣濕度）
濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH
使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)
時(shí)間范圍: 0Hr～999 Hr
加壓時(shí)間: 0.00 Kg ～1.04 Kg/cm2約45 分
溫度波動(dòng)均勻度: ±2℃
溫度顯示精度：0.1℃
壓力波動(dòng)均勻度 : ±0.1Kg
濕度分布均度：±3%RH
內(nèi)尺寸:Φ380mmxL500mm，大于50L
內(nèi)桶材質(zhì): SUS# 316不銹鋼板材質(zhì)
外箱材質(zhì): 冷軋板噴塑
